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    安立知助村田製作所開發USB 3.2雜訊抑制解決方案
    [SmartAuto 王岫晨 報導]   2024年07月25日 星期四 瀏覽人次: [2673]

    Anritsu 安立知宣佈,村田製作所 (Murata Manufacturing) 使用 Anritsu 安立知的頻譜分析儀,成功解析了 USB 3.2 通訊過程中導致雜訊產生的機制。

    安立知助力村田製作所開發 USB 3.2 雜訊抑制解決方案
    安立知助力村田製作所開發 USB 3.2 雜訊抑制解決方案

    USB 3.2 通訊過程中所產生的高頻雜訊會導致無線區域網路 (WLAN) 和 Bluetooth 無線通訊裝置的通訊速度降低、通訊品質下降等主要問題。

    村田 Murata 建立了符合 USB-IF 標準組織 USB 3.2 RFI 系統級測試的電磁雜訊測試環境,並於該環境中使用 Anritsu 安立知的頻譜分析儀/訊號分析儀 MS2830A,釐清了導致雜訊產生的機制。

    Anritsu 安立知致力於建立雜訊抑制解決方案,其結合了村田 Murata 在雜訊控制方面的專業技術和共模扼流線圈,可在保持訊號完整性的同時有效抑制雜訊。

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