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TRENCHSTOP IGBT7:工業(yè)驅(qū)動器的理想選擇
[作者 英飛凌科技提供]   2020年09月30日 星期三 瀏覽人次: [8518]

變速驅(qū)動器(VSD)相較於以機械節(jié)流進行的定速運作,能夠節(jié)省大量電力。IGBT7適合需要高效率和功率密度的變速驅(qū)動器使用。


電動馬達消耗近一半的發(fā)電量 [1]。相較於以機械節(jié)流進行的定速運作,變速驅(qū)動器(VSD)可節(jié)省大量電力。其中需要高效、強大及符合成本效益的功率半導(dǎo)體以提升變頻率,並進一步提升整體系統(tǒng)效率。


驅(qū)動應(yīng)用的主要議題之一,就是馬達絕緣系統(tǒng)固有限制對切換速度的限制。因此切換斜率 (dv/dt)限制在 2 到 10 kV/μs 之間,一般目標(biāo)為5 kV/μs。此外,一般僅需要短時間的馬達過載,例如在啟動時提供初始起動轉(zhuǎn)矩。英飛凌1200 V TRENCHSTOP? IGBT7,以及射極控制二極體 EC7 技術(shù),可滿足以上需求。IGBT7是以最新的微圖案溝槽技術(shù)為基礎(chǔ) [2],導(dǎo)通損耗遠低於IGBT4。其中提供高度的控制能力,並可在短暫的過載條件下於175 °C運作。


主要優(yōu)點包括:


*非常低的導(dǎo)通電壓,例如 VCE(sat) = 1.65 V (@Tvj = 攝氏125度)


*過載時 Tvj,op = 攝氏175 度


*增強 dv/dt 的控制能力


*dv/dt = 5 kV/μs 時的切換損耗最佳化


*8 μs 短路強健性,具降額曲線


*加強 FWD (飛輪二極體) 柔性


*高功率密度,封裝尺寸最多減少 40%


*深獲肯定的封裝技術(shù)和廣泛的產(chǎn)品組合


晶片技術(shù)

IGBT7單元概念的特色,是實作以亞微米臺面分隔的條紋圖案溝槽單元[2],而不是之前使用的方形溝槽單元。圖一是顯示MPT結(jié)構(gòu)及可能溝槽設(shè)計的示意圖。對於單元間距較小,以及閘極區(qū)域之間為窄臺面的溝槽單元,靠近射極電極的載子儲存會顯著增加。因此漂移區(qū)的導(dǎo)電率顯著增加,造成正向電壓大幅降低。



圖1 : 晶片技術(shù)概觀
圖1 : 晶片技術(shù)概觀

與上一代IGBT4相比,IGBT7的關(guān)斷損耗幾乎相同,同時大幅降低靜態(tài)損耗。其導(dǎo)通電壓比 IGBT4 T4晶片減少約 20%。Tvj = 125°C 時的標(biāo)準(zhǔn)值為1.65 V。這可在最終應(yīng)用大幅降低損耗,特別是工業(yè)驅(qū)動器應(yīng)用,因為這類應(yīng)用通常以中度切換頻率運作。


射極控制二極體EC7是為驅(qū)動應(yīng)用量身打造,不論是IGBT本身或IGBT7的FWD都是如此。相較於之前的射極控制二極體EC4,EC7降低100 mV的正向壓降,並且還加強逆向恢復(fù)柔性 [3]。


最佳化切換

對於獲得變頻器供應(yīng)一般脈衝寬度調(diào)變(PWM)電壓訊號的馬達,其絕緣系統(tǒng)將承受更高的電應(yīng)力。其中產(chǎn)生的電壓尖峰和上升時間可能導(dǎo)致電弧放電,最終造成線圈絕緣失效。因此馬達製造商一般建議,在 400 V馬達的最糟情況下,不要超過約5 kV/μs的dv/dt限制。


TRENCHSTOP? IGBT7為此提供高度的控制能力??刂颇芰Υ硌b置調(diào)整閘極電阻值 (RG)以改變dv/dt的能力。這將會影響總切換損耗(Etot)[3]。TRENCHSTOP?IGBT7本身最適合5 kV/μs左右的一般dv/dt值。在TRENCHSTOP? IGBT7資料表之中,dv/dt值和切換損耗是根據(jù)外部閘極電阻RG所提供[4]。導(dǎo)通dv/dt曲線是依據(jù)10% 額定電流和室溫條件指定,關(guān)斷曲線則是依據(jù)額定電流和室溫條件指定。其中應(yīng)注意dv/dt程度(特別是導(dǎo)通dv/dt)並非絕對,也取決於最終測試設(shè)定。


圖二提供範(fàn)例,描述IGBT dv/dt與100 A模組FS100R12W2T7閘極電阻RG 的函數(shù)關(guān)係。額定RG為1.8 Ω時,關(guān)斷dv/dt 已經(jīng)低於5 kV/μs,導(dǎo)通dv/dt則非常接近此項限制。圖二顯示需要4 kV/μs dv/dt時的閘極電阻值。圖三顯示依據(jù)電阻的標(biāo)準(zhǔn)化切換損耗。在4 kV/μs情況下,總切換損耗僅比額定RG.情況下的值高7%。



圖2 : IGBT dv/dt 對比 FS100R12W2T7 的閘極電阻 RG
圖2 : IGBT dv/dt 對比 FS100R12W2T7 的閘極電阻 RG

圖3 : Tvj = 125°C、VDC = 600 V 情況下的切換損耗,標(biāo)準(zhǔn)化為 ICnom
圖3 : Tvj = 125°C、VDC = 600 V 情況下的切換損耗,標(biāo)準(zhǔn)化為 ICnom

功率損耗

減少功率損耗同時大幅提升功率密度,是重要的設(shè)計目標(biāo) [3]。這樣可協(xié)助最終使用者建構(gòu)更高效可靠的電力電子系統(tǒng)。


我們依據(jù)表一提供的一般應(yīng)用條件,模擬兩個額定25 A電源模組的變頻器級功率損耗。圖四顯示特定 dv/dt 限制條件下的切換損耗類似,但傳導(dǎo)損耗顯著降低。此外,二極體損耗也減少??偠灾?,這樣可以降低 15% 的功率損耗。


表一:應(yīng)用參數(shù)

直流連結(jié)電壓

VDC = 540 V

輸出電流

Iout = 21.5 A

切換頻率

fsw = 4000 Hz

最大切換斜率

dv/dt = 5 kV/µs

輸出頻率

f0 = 50 Hz

功率因數(shù)

cosφ = 0.85

調(diào)變指數(shù)

mi = 1



圖4 : 模擬 FP25R12W2T4和FP25R12W2T7(Easy2B)的每開關(guān)功率損耗
圖4 : 模擬 FP25R12W2T4和FP25R12W2T7(Easy2B)的每開關(guān)功率損耗

擴大機座尺寸

IGBT7 的主要系統(tǒng)優(yōu)點不僅是降低功率損耗,也可提升功率密度,以及提供更高的作業(yè)溫度。驅(qū)動器製造商一般會以單一機械機座尺寸,提供多種馬達功率等級。TRENCHSTOP? IGBT7 由於功率密度較高,可擴展現(xiàn)有機座尺寸。


下節(jié)將提供通用驅(qū)動器(GPD)的應(yīng)用範(fàn)例。其中的重點是提升功率密度,進而降低系統(tǒng)成本。使用縮小40%的電源模組,也就是以Easy1B 取代Easy2B,可實現(xiàn)此項目標(biāo)。接面溫度模擬於過載條件下進行,其中假設(shè)7.5 kW(ND)及5.5 kW(HD)功率等級馬達的工業(yè)正常負載(ND)及重載(HD)運作條件[4]。


在這兩種條件下,都可以使用Easy1B封裝的IGBT7。此外由於作業(yè)溫度更高,因此可以減少冷卻負擔(dān)。圖五顯示ND負載曲線範(fàn)例,其中假設(shè)3秒150%過載和60秒的110% 過載,以及17.8A的基本負載輸出電流。接面溫度 Tvjop 是依據(jù)(每開關(guān))散熱器 RthHA熱阻提供。在相同RthHA的情況下,IGBT7可於更低的溫度運作。或是利用更高的作業(yè)溫度175°C,就可以接受更高的RthHA值,搭配比較不複雜的散熱器 (例如標(biāo)準(zhǔn)鋁擠型) 或較弱的風(fēng)扇。



圖5 : 正常負載(ND)情況下以 RthHA 函數(shù)表示的接面溫度:比較FP25R12W2T4(Easy2B)及FP25R12W1T7(Easy1B)
圖5 : 正常負載(ND)情況下以 RthHA 函數(shù)表示的接面溫度:比較FP25R12W2T4(Easy2B)及FP25R12W1T7(Easy1B)

結(jié)論

比較IGBT4和IGBT7之後,顯示IGBT7具備顯著優(yōu)勢,特別是變速驅(qū)動器應(yīng)用。Easy 1B和Easy 2B封裝IGBT7的模擬結(jié)果,顯示IGBT7有潛力達到遠高於IGBT4的功率密度。這是因為IGBT7可在更小的封裝之中,提供相同的額定電流。此外IGBT7最適合在5 kV/μs的dv/dt情況下運作,以滿足馬達絕緣系統(tǒng)需求。


總之,IGBT7是一種極具吸引力的解決方案,適合需要高效率和功率密度的變速驅(qū)動器使用。


(本文作者Benjamin Sahan、Yizheng Zhou、Ainhoa Puyadena Mier、Uwe Jansen、Alexander Philippou、Max Seifert、ChristianR.Muller 及 Christian Jaeger任職於英飛凌科技)


參考資料

[1] F. Ferreira, A. de Almeida "Reducing Energy Costs in Electric-Motor-Driven Systems", IEEE Industry Applications Magazine 2018


[2] C. Jaeger, et al, “A New Sub-Micron Trench Cell Concept in Ultrathin. Wafer Technology for Next Generation 1200 V IGBTs” ISPSD, Sapporo, Japan, 2017.


[3] C. R. Muller, et al., “New 1200 V IGBT and Diode Technology with Improved Controllability for Superior Performance in Drives Application”, PCIM Europe, Nuremberg, Germany, 2018


[4] Infineon Technologies AG “AN2018-14 TRENCHSTOP? 1200 V IGBT7 Application Note”


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