全球計量學專家Renishaw (雷尼紹)于第26 臺北國際工具機展(TIMTOS 2017)展示全新XM-60多光束校正儀。 XM-60只需一次設定便能順著線性軸的任何方向，量測所有六個自由度。相較于傳統(tǒng)雷射量測技術，XM-60的操作更為簡易省時。

Renishaw (雷尼紹)于第26 臺北國際工具機展展示全新XM-60多光束校正儀。

Renishaw的專家團隊包括Renishaw英國市場行銷經(jīng)理Dave Wall, Renishaw亞太區(qū)產(chǎn)品經(jīng)理李立恒在[TIMTOS 2017快速提升工具機性能 迎接智慧制造新世代]研討會中詳細介紹 XM-60的優(yōu)勢。

隨著市場對工件的公差需求日益嚴謹，制造商需考量工具機在生產(chǎn)工件時造成的所有誤差源: 包括角度誤差、線性與真直度誤差。 XM-60只需一次設定便能擷取所有這些誤差。 XM-60多光束校正儀專為工具機量測市場而設計，可補強Renishaw包含XL-80雷射系統(tǒng)、XR20-W旋轉軸校正儀和QC20-W無線循圓測試儀等的校正產(chǎn)品線。 XM-60以XC-80環(huán)境補償器作環(huán)境條件修正。

XM-60多光束校正儀提供高度精確的雷射系統(tǒng)，內(nèi)含專利光學側轉角量測和光纖啟動系統(tǒng)的獨特技術。輕巧的發(fā)射端遠離雷射源，有效降低量測點的熱效應。可直接裝在機器一側上、反過來裝或裝在背面，對難以靠近機器的區(qū)域特別有益。

降低量測不確定性對于任何使用者都至關重要。 Renishaw XM-60是專為可直接量測工具機誤差而設計，有效降低量測不準確性 - 這些不準確性會因為有些量測技術替代方案中使用的復雜數(shù)學計算而產(chǎn)生。透過使用者現(xiàn)有的 XL-80 量測用零件程式，直接量測使得工具機調整前后的比較變?yōu)榭焖偾液唵蔚墓ぷ鳌＝邮掌饕詿o線操作并由充電電池供電，在工具機移動時避免被電纜線絆倒而造成量測不準確，或中斷雷射光束。

每一臺XM-60 多光束校正儀都可依據(jù)國際標準追溯效能，而且每一臺也都在運輸前先經(jīng)過認證，確保雷射系統(tǒng)日復日在生產(chǎn)現(xiàn)場均能提供所需的精度，讓使用者更具信心。

為了支援 XM-60 多軸校正儀的推出，Renishaw 亦將推出 新版本CARTO 套裝軟體，在量測過程中為使用者導引工作流程。 CARTO 2.0包含Capture和Explore應用程式，已能為XL-80雷射干涉儀提供資料擷取及分析功能。 CARTO使用者介面可輕松配置以符合使用者偏好，能夠變更主題，并且自訂顯示。 CARTO與平板電腦相容，并且有可擴充的功能表區(qū)段，可在小螢幕上輕松使用; 使用者可自動儲存測試方法，需重復測試的使用者可輕易地調用先前的測試。

Capture 2.0功能包括：全新零件程式產(chǎn)生器、支援 Fanuc 30、Heidenhain 530、Mazak Matrix和 Siemens 840D 控制器，下一版還有更多功能。 Capture 2.0具有進階功能，可以依據(jù)使用者所選擇的平均周期自動設定程式的暫留時間，還具有「匹配時間」模式，可在使用 XL-80 系統(tǒng)時，協(xié)助進行基于時間的擷取。在 XM-60 模式中，Capture 2.0 使用校正儀的真直度量測功能改良其易用性。

XM-60提供功能強大的診斷功能，這是經(jīng)由「單發(fā)」方式，透過量測所有自由度來提供。藉由在任何量測期間擷取三種線性和三種旋轉誤差源，使用者可發(fā)現(xiàn)其誤差來源，而不是通常只在進行線性量測時才看到的效應。所有數(shù)據(jù)處理都是藉由 Explore 2.0 應用程式來進行，此應用程式提供六個自由度的誤差數(shù)據(jù)摘要檢視圖，每筆數(shù)據(jù)都可以依照各類國際標準來顯示。此等大量數(shù)據(jù)之管理也是在 Explore 2.0 里輕松進行。可將使用者定義標記指定到數(shù)據(jù)庫中儲存的任何測試、或測試群組，接著可藉由這些標記來篩選數(shù)據(jù)。

XM-60 多軸校正儀連同堅固的Peli系統(tǒng)箱中銷售，Peli系統(tǒng)箱亦可容納配件和 XC-80 補償器套件。 Peli系統(tǒng)箱箱的設計確保可安全存放并且運輸雷射系統(tǒng)，而且在許多應用中，雷射單元可在量測期間保持于此箱中，從而簡化設定。選配的夾持套件可有助于將 XM-60 安裝到機臺，裝在手提箱中便于運輸。