Tektronix今天宣布為其AFG31000任意/函數(shù)產(chǎn)生器推出全新的軟體擴(kuò)充應(yīng)用程式，讓工程師可在不到一分鐘的時(shí)間內(nèi)執(zhí)行關(guān)鍵的雙脈沖測試，與替代方法相較，顯著地節(jié)省了大量的時(shí)間。

現(xiàn)在使用者可在一分鐘內(nèi)就完成用於量測和評估SiC、GaN電源裝置切換叁數(shù)的關(guān)鍵雙脈沖測試

借助全新Double Pulse Test軟體的強(qiáng)大功能，工程師可在一分鐘內(nèi)從AFG31000大型觸控式螢?zāi)伙@示器上的單一視窗快速定義脈沖叁數(shù)，然後產(chǎn)生執(zhí)行測試所需的脈沖。此應(yīng)用程式提供了脈沖寬度的阻抗調(diào)整以及每個(gè)脈沖之間的時(shí)間間隔(最多30個(gè)脈沖)。脈沖寬度范圍可從20ns至150μs。

Tektronix的Keithley產(chǎn)品線??總裁暨總經(jīng)理Chris Bohn表示：「新型AFG31000設(shè)計(jì)宗旨就是要讓使用者能輕松設(shè)定測試系統(tǒng)、快速變更叁數(shù)，并以高效率和穩(wěn)定性執(zhí)行一系列測試案例，而全新的Double Pulse Test擴(kuò)充應(yīng)用程式正是另一個(gè)鐵證。這對於電源工程師而言，不僅意味著生產(chǎn)力的顯著提升，更意味著可以節(jié)省大量成本，并縮短產(chǎn)品上市的時(shí)間。」

電源和半導(dǎo)體行業(yè)的研究人員以及設(shè)計(jì)和測試工程師會(huì)使用雙脈沖測試來量測與評估電源裝置的切換叁數(shù)和動(dòng)態(tài)變化，包括由寬頻帶間隙材料如碳化矽(SiC)和氮化??(GaN)，所制成的裝置。

為了執(zhí)行雙脈沖測試，工程師需要精確地產(chǎn)生至少兩種具有不同脈沖寬度和時(shí)序的電壓脈沖，以觸發(fā)MOSFET或IGBT電源裝置。而量測則是使用如Tektronix 5 系列 MSO的示波器進(jìn)行。但是，對於現(xiàn)今的測試設(shè)備而言，產(chǎn)生這些脈沖始終是一項(xiàng)挑戰(zhàn)，迫使研究人員和工程師必須使用PC或微控制器手動(dòng)建立波形，但此方法不僅耗時(shí)且容易出錯(cuò)。

AFG31000重新定義了任意/函數(shù)產(chǎn)生器

去年推出的AFG31000已重新定義任意/函數(shù)產(chǎn)生器，并擁有多項(xiàng)同級(jí)產(chǎn)品中業(yè)界第一的特點(diǎn)，包括最大的觸控式螢?zāi)弧⑷碌氖褂谜呓槊妗@得專利且可自動(dòng)偵測并補(bǔ)償阻抗不相符的InstaView技術(shù)功能、可程式設(shè)計(jì)的波形排序，以及可輕松建立和編輯任意波形的全新ArbBuilder工具。

AFG31000系列儀器配備9寸觸控式螢?zāi)伙@示器，并具有單通道或雙通道配置，可提供14位元垂直解析度以及250MSa/s、1 GSa/s或2 GSa/s取樣率效能。

此外，客戶現(xiàn)在可從官網(wǎng)上下載適用於AFG31000的雙脈沖測試軟體。