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    愛德萬最新V93000系統(tǒng)單晶片測(cè)試系統(tǒng) 解決百萬兆級(jí)運(yùn)算測(cè)試挑戰(zhàn)
    Dressing udstyr   2020年09月25日 星期五 瀏覽人次: [5658]

    半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商愛德萬測(cè)試(Advantest Corporation)針對(duì)運(yùn)算效能達(dá)百萬兆級(jí)(Exascale)的先進(jìn)數(shù)位IC ,發(fā)表最新次世代V93000測(cè)試機(jī)。該系統(tǒng)搭載最新測(cè)試頭,結(jié)合Xtreme Link科技及EXA Scale通用數(shù)位和電源供應(yīng)卡,不僅能支援最新測(cè)試方法,更能降低測(cè)試成本、縮短產(chǎn)品上市時(shí)程。

    愛德萬測(cè)試最新V93000 EXA Scale世代在V93000架構(gòu)上解決當(dāng)前面臨的極端測(cè)試挑戰(zhàn)。所有EXA Scale卡都配備愛德萬測(cè)試最新一代8核心的測(cè)試處理器,以獨(dú)特的能力加速并簡(jiǎn)化測(cè)試工作。
    愛德萬測(cè)試最新V93000 EXA Scale世代在V93000架構(gòu)上解決當(dāng)前面臨的極端測(cè)試挑戰(zhàn)。所有EXA Scale卡都配備愛德萬測(cè)試最新一代8核心的測(cè)試處理器,以獨(dú)特的能力加速并簡(jiǎn)化測(cè)試工作。

    現(xiàn)今先進(jìn)半導(dǎo)體制程帶來技術(shù)的變革,得以即時(shí)整合來自物聯(lián)網(wǎng)(IoT)、手持裝置、汽車和大型伺服器等等無數(shù)個(gè)資料來源。隨著行動(dòng)處理器、高效能運(yùn)算 (HPC) 和人工智慧 (AI) 晶片持續(xù)進(jìn)化,需要處理的資料量也跟著爆炸性成長。新的測(cè)試挑戰(zhàn)伴隨這些進(jìn)步接踵而來,譬如極大量的掃描數(shù)據(jù)、極端電源需求、快速的良率學(xué)習(xí)和多工同測(cè)的配置,在在都需要解決。

    愛德萬測(cè)試最新V93000 EXA Scale世代在已獲業(yè)界肯定的V93000架構(gòu)上,運(yùn)用創(chuàng)新技術(shù)解決上述挑戰(zhàn)。所有EXA Scale卡都配備愛德萬測(cè)試最新一代8核心的測(cè)試處理器,以獨(dú)特的能力加速并簡(jiǎn)化測(cè)試工作。此外,V93000 EXA Scale系統(tǒng)還采用愛德萬測(cè)試專利Xtreme Link科技,乃是專為自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 (ATE) 所設(shè)計(jì)的通訊網(wǎng)路,能執(zhí)行高速資料連接、嵌入式運(yùn)算能力以及即時(shí)卡對(duì)卡 (card-to-card) 通訊。

    這套系統(tǒng)的最新Pin Scale 5000數(shù)位卡,正是為了伴隨著大量數(shù)位設(shè)計(jì)所導(dǎo)致的爆炸性成長的掃描資料而設(shè)計(jì)。Pin Scale 5000以可達(dá)5Gbit/s的速度為掃瞄測(cè)試奠定了新標(biāo)準(zhǔn),同時(shí)提供市面上深度最大的向量記憶體,并運(yùn)用Xtreme Link科技,實(shí)現(xiàn)業(yè)界最快的處理速度。有了這項(xiàng)科技,客戶便能為自家晶片選擇最有效率的掃描方法。

    在供電電壓小於1V同時(shí)能提供高達(dá)好幾千安培的超高電流需求下,使得ATE的電力傳輸能力成為決定性關(guān)鍵。XPS256電源供應(yīng)卡是另一項(xiàng)業(yè)界創(chuàng)新,配備單一DPS卡就能涵蓋所有電源需求:極細(xì)粒度電源 (fine-granular power)、無限量且具彈性的結(jié)夥 (ganging),以及超凡的動(dòng)態(tài)與靜態(tài)效能。

    Pin Scale 5000數(shù)位卡及XPS256電源供應(yīng)卡均具備256個(gè)通道,在保有V93000高度整合優(yōu)勢(shì)的同時(shí),使得密度倍增。多工同測(cè)的設(shè)置可以部署在較小型的實(shí)體系統(tǒng)上,藉此減少基礎(chǔ)架構(gòu)成本和空間需求。

    愛德萬測(cè)試V93000事業(yè)部常務(wù)總監(jiān)暨執(zhí)行??總Juergen Serrer表示:「當(dāng)我們逐步邁向百萬兆級(jí)運(yùn)算時(shí)代,客戶在效能、測(cè)試成本、品管以及量產(chǎn)時(shí)程等方面所面臨的極端測(cè)試挑戰(zhàn),全都能透過EXA Scale為久經(jīng)淬煉之V93000平臺(tái)注入的創(chuàng)新技術(shù)獲得解決。」

    可擴(kuò)充的解決方案拓及各式大小的測(cè)試頭,并具備在單一測(cè)試系統(tǒng)上,針對(duì)數(shù)位、射頻、類比和電源等等混合元件功能進(jìn)行測(cè)試的能力。

    V93000 EXA Scale世代依舊嚴(yán)守愛德萬測(cè)試對(duì)於平臺(tái)相容性的承諾。現(xiàn)有V93000測(cè)試載板和Smart Scale卡,都能與最新V93000 EXA Scale世代無縫接軌,達(dá)到最隹資產(chǎn)利用。也藉由延續(xù)使用獲業(yè)界肯定的SmarTest軟體,客戶更能受益於已擁有龐大建置基礎(chǔ)的軟體架構(gòu)和工具。

    愛德萬測(cè)試已向多家客戶出貨數(shù)十套V93000 EXA Scale系統(tǒng)。

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